Αναζήτηση λέξεων κλειδιών

  • Main
  • Αναζήτηση λέξεων κλειδιών
1
Рентгенофазовый анализ.

Рентгенофазовый анализ.

Ковба Л.М., Трунов В.К.
линий
линии
решетки
излучения
рис
ячейки
значения
табл
атомов
вещества
образца
параметров
hkl
индицирование
интенсивности
индексы
интенсивность
рентгеновских
лучей
поглощения
типа
веществ
кубической
рентгенограммы
съемки
порошка
камеры
рентгенограмм
симметрии
таблица
sin2
анализа
величины
оси
наиболее
определения
индексами
гексагональной
иметь
позволяет
продолжение
пучка
трубки
рентгенограмме
кристалла
число
случаях
смеси
индицирования
обратной
Έτος:
1976
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
DJVU, 2.00 MB
0 / 0
russian, 1976
2
Справочник по ренгеноструктурному анализу поликристаллов

Справочник по ренгеноструктурному анализу поликристаллов

Миркин Л.И
оооооооооо
рис
линий
значения
приведены
интенсивности
линии
тип
рассеяния
рентгенограмм
решетки
образца
сою
рентгеновских
лучей
sin2
totototototototototo
определения
ооооо
определение
кристаллов
съемки
таблице
ооо
системы
излучения
интенсивность
сосососососососососо
coco
oooooooooo
оооооооооооооооооооо
таблицы
анализа
различных
блоков
метод
атомов
cocococococococococo
табл
стз
съемке
расстояния
частиц
оси
рентгенограмме
график
oooooooooooooooooooo
некоторых
соотношения
cos2
Έτος:
1961
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
DJVU, 18.41 MB
0 / 0
russian, 1961
3
Рентгенофазовый анализ

Рентгенофазовый анализ

Ковба Л.М.
линий
линии
решетки
ячейки
значения
атомов
излучения
индицирование
рис
hkl
интенсивности
параметров
вещества
интенсивность
типа
поглощения
симметрии
оси
веществ
табл
индексами
индексы
кубической
порошка
величины
рентгеновских
рентгенограммы
образца
гексагональной
иметь
интенсивностей
лучей
наиболее
обратной
определения
сингонии
анализа
число
индексов
индицирования
рентгенограмме
ячейке
волны
координаты
группы
кристалла
позволяет
векторов
величина
приведены
Έτος:
1976
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 24.40 MB
0 / 0
russian, 1976
4
Рентгенофазовый анализ

Рентгенофазовый анализ

Ковба Л.М., Трунов В.К.
линий
линии
тся
решетки
рис
излучения
ячейки
табл
мож
значения
е­
атомов
индексы
интенсивности
индицирование
типа
интенсивность
рентгеновских
рентгенограмм
соз
лучей
ения
оси
поглощения
вещества
величины
кубической
симметрии
съемки
рентгенограммы
иметь
арам
етр
етров
продолжение
пучка
трубки
кри
ния
определения
таблица
веществ
смеси
число
порошка
сингонии
ается
индексами
индексов
обратной
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 4.25 MB
0 / 0
russian
5
Дифракционный структурный анализ. Основные методы исследования: учебно-методическое пособие для студентов, обучающихся по направлениям подготовки бакалавров "Нанотехнологии и микросистемная техника", "Физика", "Техническая физика"

Дифракционный структурный анализ. Основные методы исследования: учебно-методическое пособие для студентов, обучающихся по направлениям подготовки бакалавров "Нанотехнологии и микросистемная техника", "Физика", "Техническая физика"

А. В. Сосунов, Л. Н. Малинина, Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Пермский государственный национальный исследовательский университет"
решетки
линии
рис
линий
лучей
оси
плоскости
рентгеновских
вращения
индексов
волны
вещества
вульфа
отражения
плоскостей
излучения
индексы
кристаллов
определить
hkl
линия
обратной
угол
поглощения
проекции
рентгенограмме
длины
монокристалла
т.е
помощью
рефлексы
волн
индицирование
квадратов
кристалла
луча
рентгенограммы
решеткой
сетки
лучи
метода
образца
значения
луч
определения
зависит
лауэ
направления
спектр
угла
Έτος:
2021
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 3.28 MB
0 / 0
russian, 2021
6
Определение индексов отражающих плоскостей: лабораторный практикум

Определение индексов отражающих плоскостей: лабораторный практикум

Блинов В. И.
hkl
линий
линии
индицирование
рентгенограммы
решетки
индексов
сингонии
гексагональной
индексы
плоскостей
индицирования
интерференции
рентгенограмм
ряд
dhkl
значения
кубической
aгентство
cервис
kнига
бибком
веществ
кубическая
оао
ооо
сингоний
цкб
рентгенограмме
решетка
табл
тетрагональной
чисел
квадратов
кристаллов
номограммы
отражения
решеток
числа
fhkl
вещества
значений
целых
const
k12
l12
l2k
данной
значениям
линия
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 321 KB
0 / 0
russian
7
Определение индексов отражающих плоскостей: Описание лабораторной работы по курсу ''Рентгеноструктурный анализ''

Определение индексов отражающих плоскостей: Описание лабораторной работы по курсу ''Рентгеноструктурный анализ''

Панова Т.В., Блинов В.И.
hkl
линий
линии
индицирование
рентгенограммы
решетки
индексов
сингонии
гексагональной
индексы
плоскостей
индицирования
интерференции
рентгенограмм
ряд
dhkl
значения
кубической
веществ
кубическая
сингоний
рентгенограмме
решетка
табл
тетрагональной
чисел
квадратов
кристаллов
номограммы
отражения
решеток
числа
fhkl
вещества
значений
целых
const
k12
l12
l2k
данной
значениям
линия
порядок
разных
решеткой
столбец
типа
θ1
алмаза
Έτος:
2004
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 324 KB
0 / 0
russian, 2004
8
Рентгенофазовый анализ

Рентгенофазовый анализ

Шпанченко Р.В., Розова М.Г.
линий
рентгенограммы
решётки
ячейки
индицирования
параметров
задача
индицирование
обратной
рентгенограмме
линии
методом
сингонии
qhkl
задачи
значения
типа
число
hkl
определение
индексы
расстояния
смеси
nposs
исходной
мнк
рефлексов
2θ
используют
программы
соединения
уточнение
элементарной
dhkl
позволяет
рис
структуры
таблица
величины
параметры
плоскостей
промер
различных
рентгенограмм
сингония
теоретической
ячеек
ijk
qэксп
интенсивность
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 583 KB
0 / 0
russian
9
Кристаллофизика. Симметрия кристаллических многогранников. Лабораторный практикум

Кристаллофизика. Симметрия кристаллических многогранников. Лабораторный практикум

Диденко И.С., Гераськин В.В.
симметрии
грани
рис
оси
граней
проекций
грань
проекции
кристалла
плоскости
сингонии
элементов
многогранника
кристаллов
индексы
осей
порядка
направления
проекция
кубической
отрезки
символ
осям
формы
круга
координат
направление
многогранник
плоскостей
простых
форм
многогранников
т.е
кристаллических
миллера
параметров
плоскость
простые
единичных
определить
осями
центр
гномостереографические
стереографическая
гексагональной
гранью
единичной
отсекает
призмы
ромбической
Έτος:
2011
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 1.21 MB
0 / 0
russian, 2011
10
Кристаллофизика : симметрия кристаллических многогранников: Лабораторный практикум

Кристаллофизика : симметрия кристаллических многогранников: Лабораторный практикум

Диденко И.С., Гераськин В.В.
симметрии
грани
рис
оси
граней
проекций
грань
проекции
кристалла
плоскости
сингонии
элементов
многогранника
кристаллов
индексы
осей
порядка
направления
проекция
кубической
отрезки
символ
осям
формы
круга
координат
направление
многогранник
плоскостей
простых
форм
многогранников
т.е
кристаллических
миллера
параметров
плоскость
простые
единичных
определить
осями
центр
гномостереографические
стереографическая
гексагональной
гранью
единичной
отсекает
призмы
ромбической
Έτος:
2011
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 3.48 MB
0 / 5.0
russian, 2011
11
Кристаллофизика. Симметрия кристаллических многогранников. Лабораторный практикум

Кристаллофизика. Симметрия кристаллических многогранников. Лабораторный практикум

Диденко И.С., Гераськин В.В.
симметрии
грани
рис
оси
граней
проекций
грань
проекции
кристалла
плоскости
сингонии
элементов
многогранника
кристаллов
индексы
осей
порядка
направления
проекция
кубической
отрезки
символ
осям
формы
круга
координат
направление
многогранник
плоскостей
простых
форм
многогранников
т.е
кристаллических
миллера
параметров
плоскость
простые
единичных
определить
осями
центр
гномостереографические
стереографическая
гексагональной
гранью
единичной
отсекает
призмы
ромбической
Έτος:
2011
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 55.99 MB
0 / 0
russian, 2011
12
Рассеяние ускоренных электронов на атомной структуре: практикум

Рассеяние ускоренных электронов на атомной структуре: практикум

А.А. Cушков, Д.А. Павлов (составление)
рис
решетки
электронограммы
обратной
изображение
индексы
плоскости
электронов
электронограмм
плоскостей
hkl
фурье
слоя
атомного
нажмите
разрешения
помощью
преобразование
дифракционной
изображения
микроскопе
поперечного
среза
просвечивающем
расстояние
электронном
𝐚
gatan
micrograph
дифракции
задание
картина
поликристалла
приложение
роста
зон
изображении
картине
кикучи
межплоскостных
расстояний
типа
𝐛
𝐜
индицирование
интенсивности
направлением
обеспечения
программного
𝐇hkl
Έτος:
2020
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 6.40 MB
0 / 5.0
russian, 2020
13
Рассеяние ускоренных электронов на атомной структуре: практикум

Рассеяние ускоренных электронов на атомной структуре: практикум

Коллектив авторов
рис
решетки
электронограммы
обратной
изображение
индексы
плоскости
электронов
электронограмм
плоскостей
hkl
фурье
слоя
атомного
нажмите
разрешения
помощью
преобразование
дифракционной
изображения
микроскопе
поперечного
среза
просвечивающем
расстояние
электронном
𝐚
gatan
micrograph
дифракции
задание
картина
поликристалла
приложение
роста
зон
изображении
картине
кикучи
межплоскостных
расстояний
типа
𝐛
𝐜
индицирование
интенсивности
направлением
обеспечения
программного
𝐇hkl
Έτος:
2020
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 6.40 MB
0 / 3.0
russian, 2020
14
Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть I: Учебное пособие

Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть I: Учебное пособие

Кузьмичева Г.М.
2θ
ячейки
рис
фазы
элементарной
состава
фаз
типа
iотн
данные
параметров
отражений
отражения
табл
hkl
образца
дифракционных
радиуса
соединения
данных
рентгенометрические
bo3
индицирования
шихты
параметра
структурой
структуры
шихтового
вещества
зависимости
параметрами
результаты
соединений
зависимость
интенсивности
определение
полученного
экспериментальные
yrh4b4
анализ
отражение
порошковой
углов
dyrh4b4
errh3b2
luru4b4
величина
гинье
дифрактограмма
дифракционные
Έτος:
2006
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 1.61 MB
0 / 0
russian, 2006
15
Геометрическая теория рассеяния ускоренных электронов на кристаллах: Описание к лабораторному практикуму по курсу ''Методы исследования структуры твердых тел''

Геометрическая теория рассеяния ускоренных электронов на кристаллах: Описание к лабораторному практикуму по курсу ''Методы исследования структуры твердых тел''

Кудрявцева Р.В., Павлов А.Д., Шиляев П.А.
решетки
обратной
электронограммы
hkl
электронограмм
текстуры
электронов
плоскости
оси
электронограмма
рис
отражения
точечных
т.е
кристаллов
определить
dhkl
индексы
поликристалла
электронограмме
колец
межплоскостных
электронографии
вещества
кикучи
пучка
расстояний
дифракции
образца
прямой
узел
фото
решетка
симметрии
сферы
узлов
волны
индексов
кристалликов
линий
линиями
направление
определения
применение
пучку
рассеяния
соответственно
текстур
2lλ
ϕ
Έτος:
2003
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 1.58 MB
0 / 0
russian, 2003
16
Рентгенография. Физические основы метода и практическое приложение: Электронное учебно-методическое пособие

Рентгенография. Физические основы метода и практическое приложение: Электронное учебно-методическое пособие

Буланов Е. Н.
рис
атомов
ячейки
структуры
элементарной
соединения
hkl
рентгенограммы
метод
интенсивности
излучения
метода
параметры
рентгенограмм
2θ
вещества
типа
данных
исследования
образца
рентгенография
уточнения
помощью
рентгеновских
число
дифракционных
лучей
максимумов
наиболее
основы
параметров
расширения
рентгеновского
рентгенографии
теплового
физические
анализ
излучение
кристаллической
кубической
пика
сингонии
соединений
волн
лабораторная
методом
отражения
плоскостей
поглощения
рефлекса
Έτος:
2014
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 1.53 MB
0 / 4.0
russian, 2014
17
Рентгенография. Физические основы метода и практическое приложение

Рентгенография. Физические основы метода и практическое приложение

Буланов Е.Н.
рис
атомов
ячейки
структуры
элементарной
соединения
hkl
рентгенограммы
метод
интенсивности
излучения
метода
параметры
рентгенограмм
2θ
вещества
типа
данных
исследования
образца
рентгенография
уточнения
помощью
рентгеновских
число
дифракционных
лучей
максимумов
наиболее
основы
параметров
расширения
рентгеновского
рентгенографии
теплового
физические
анализ
излучение
кристаллической
кубической
пика
сингонии
соединений
волн
лабораторная
методом
отражения
плоскостей
поглощения
рефлекса
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 1.52 MB
0 / 0
russian
18
Определение параметров элементарной ячейки кристаллов: лабораторный практикум.

Определение параметров элементарной ячейки кристаллов: лабораторный практикум.

Блинов В. И.
параметров
линии
ячейки
решетки
элементарной
погрешности
тяжести
фона
вещества
измерений
определения
пика
центра
дифракционной
кристаллов
линий
определение
параметра
съемки
aгентство
cервис
kнига
бибком
дифракционного
значения
измерения
использовать
максимума
оао
ооо
периодов
погрешность
расстояния
углов
цкб
величина
исследуемого
кубической
межплоскостных
методы
отражения
пиков
погрешностей
положение
помощью
программы
путем
расстояний
расчета
систематических
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 255 KB
0 / 0
russian
19
Определение параметров элементарной ячейки кристаллов: Описание лабораторной работы по курсу ''Рентгено-структурный анализ''

Определение параметров элементарной ячейки кристаллов: Описание лабораторной работы по курсу ''Рентгено-структурный анализ''

Панова Т.В., Блинов В.И.
параметров
линии
ячейки
решетки
элементарной
погрешности
тяжести
фона
вещества
измерений
определения
пика
центра
дифракционной
кристаллов
линий
определение
параметра
съемки
дифракционного
значения
измерения
использовать
максимума
периодов
погрешность
расстояния
углов
величина
исследуемого
кубической
межплоскостных
методы
отражения
пиков
погрешностей
положение
помощью
программы
путем
расстояний
расчета
систематических
точности
точностью
угла
углами
0ист
2θ
2θ1
Έτος:
2004
Γλώσσα:
russian
Αρχείο:
PDF, 258 KB
0 / 0
russian, 2004